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HY（BL）半導體芯片90度剝離強度試驗機

半導體芯片90度剝離強度試驗機用于測試覆銅層壓板和印刷線路板工業(yè)的試驗室中測量剛性板上銅箔或者柔性板上銅箔的抗剝離力、剝離強度、平均剝離力、平均剝離強度等。

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